产品介绍：
应用于CISlmage芯片晶圆测试,利用半导体光刻制程制造之探针,于高密度阵列(High Density Needle Array)硅晶圆检测时,可保持杂讯低及电性稳定之特性。
特性：
借稳定微机电针尖(MEMS Tip)提升测试良率(Yield)
16Para,32Para,64Para矩阵阵列
(64Para较32Para可缩短一半的检测时间)
重点规格
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